基本信息
朱翔 男 硕导 中国科学院国家空间科学中心
电子邮件： zhuxiang@nssc.ac.cn
通信地址： 北京市怀柔区京密北二街空间中心
邮政编码：
电子邮件： zhuxiang@nssc.ac.cn
通信地址： 北京市怀柔区京密北二街空间中心
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研究领域
（1）空间天气效应监测及应用
（2）空间电子学设计
（3）芯片安全测试技术
招生信息
招生专业
085400-电子信息
招生方向
空间天气效应
空间电子学设计
粒子探测及抗辐射设计
空间电子学设计
粒子探测及抗辐射设计
教育背景
2014-09--2020-06 中国科学院大学 博士
2005-09--2008-07 中国科学技术大学 硕士
2001-09--2005-07 中国科学技术大学 本科
2005-09--2008-07 中国科学技术大学 硕士
2001-09--2005-07 中国科学技术大学 本科
工作经历
工作简历
2009-04~现在, 中国科学院国家空间科学中心, 高级工程师
教授课程
航天器空间环境效应
专利与奖励
奖励信息
（1） 集成电路抗单粒子效应激光试验评估技术, 二等奖, 部委级, 2019
专利成果
（ 1 ） 用于半导体器件瞬态辐射感生电荷的测量方法、系统及装置, 发明专利, 2022, 第 8 作者, 专利号: CN113985240A
（ 2 ） 一种用于检测半导体器件硬缺陷故障点的定位装置及方法, 发明专利, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN113466650A
（ 3 ） 半导体器件瞬态剂量率效应激光模拟装置及评估系统, 发明专利, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN113030688A
（ 4 ） 一种激光探测集成电路内部电平状态的系统, 发明专利, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN113030713A
（ 5 ） 一种多类型器件单粒子效应统筹监测系统及监测方法, 发明专利, 2020, 第 2 作者, 专利号: CN111781446A
（ 6 ） 一种器件单粒子效应薄弱点测绘甄别装置及方法, 专利授权, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN110470968A
（ 7 ） 一种密码芯片的安全检测方法及其装置, 专利授权, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN108173645A
（ 8 ） 一种用于半导体器件材料厚度的光学测量方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105136049A
（ 9 ） 一种暴露芯片衬底面的封装方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105070694A
（ 10 ） 一种用于半导体器件材料吸收系数的光学测量方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105067529A
（ 11 ） 一种用于半导体器件材料反射率的光学测量方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105004697A
（ 2 ） 一种用于检测半导体器件硬缺陷故障点的定位装置及方法, 发明专利, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN113466650A
（ 3 ） 半导体器件瞬态剂量率效应激光模拟装置及评估系统, 发明专利, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN113030688A
（ 4 ） 一种激光探测集成电路内部电平状态的系统, 发明专利, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN113030713A
（ 5 ） 一种多类型器件单粒子效应统筹监测系统及监测方法, 发明专利, 2020, 第 2 作者, 专利号: CN111781446A
（ 6 ） 一种器件单粒子效应薄弱点测绘甄别装置及方法, 专利授权, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN110470968A
（ 7 ） 一种密码芯片的安全检测方法及其装置, 专利授权, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN108173645A
（ 8 ） 一种用于半导体器件材料厚度的光学测量方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105136049A
（ 9 ） 一种暴露芯片衬底面的封装方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105070694A
（ 10 ） 一种用于半导体器件材料吸收系数的光学测量方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105067529A
（ 11 ） 一种用于半导体器件材料反射率的光学测量方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105004697A
出版信息
发表论文
（1） Study of Single Event Latch-Up Hardness for CMOS Devices with a Resistor in Front of DC-DC Converter, ELECTRONICS, 2023, 第 2 作者
（2） 基于FPGA的COTS器件辐射效应测试系统, 半导体技术, 2023, 第 3 作者
（3） Instruction-Fetching Attack and Practice in Collision Fault Attack on AES, SYMMETRY, 2022, 第 2 作者
（4） 基于激光注入的FPGA加密防护设计验证研究, 电子学报, 2022, 第 2 作者
（5） 脉冲激光诱发65 nm体硅CMOS加固触发器链的单粒子翻转敏感度研究, Sensibility of single event upset of hardened D flip-flop chain in 65 nm bulk silicon CMOS irradiated by pulsed laser, 航天器环境工程, 2021, 第 7 作者
（6） 基于微控制器的AES激光注入攻击研究, Research on Laser Injection Attack for AES Based on Micro-Controller Unit, 电子与信息学报, 2021, 第 2 作者
（7） A method for fault recognition in the last three rounds of Advanced Encryption Standard, ELECTRONICS LETTERS, 2021, 第 2 作者
（8） Flash芯片电流“尖峰”现象的脉冲激光试验, 北京航空航天大学学报, 2020, 第 2 作者
（9） Persistent Fault Attack in Practice, TRANSACTIONS ON CRYPTOGRAPHIC HARDWARE AND EMBEDDED SYSTEMS, 2020, 第 4 作者
（10） 空间辐射环境危害综合监测原理样机研制, Development of a space radiation hazard monitor, 航天器环境工程, 2019, 第 2 作者
（11） Precise methods for distinguishing S-box faults in laser injection attacks, ELECTRONICSLETTERS, 2019, 第 4 作者
（12） 激光模拟瞬态剂量率闩锁效应电流特征机制研究, Characteristics of latch-up current of dose rate effect by laser simulation, 物理学报, 2019, 第 4 作者
（13） Characteristics of latch-up current of dose rate effect by laser simulation, ACTA PHYSICA SINICA, 2019, 第 4 作者
（14） 0.13μm部分耗尽SOI工艺反相器链SET脉宽传播, Single event transient pulse width transmission of 0.13��m partial depleted SOI process DFF, 北京航空航天大学学报, 2019, 第 2 作者
（15） SEE Characteristics of COTS Devices by 1064nm Pulsed Laser Backside Testing, 2018 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE, NSREC 2018, 2018, 第 5 作者
（16） 空间静电放电对集成运算放大器的干扰影响模拟试验研究, 中国科学: 技术科学, 2017, 第 2 作者
（17） 脉冲激光模拟空间载荷单粒子效应研究进展, Research Progress for Single Event Effects of Space Payloads by Pulsed Laser Simulation, 深空探测学报, 2017, 第 4 作者
（18） K6R4016V1D芯片在低地球轨道发生单粒子效应频次的分析, 空间科学学报, 2015, 第 7 作者
（19） SRAM型FPGA单粒子翻转效应加固方法, 北京航空航天大学学报, 2014, 第 3 作者
（20） 脉冲激光和重离子辐照FPGA产生的多位翻转效应的比较, 原子能科学技术, 2014, 第 3 作者
（21） 不同工艺尺寸CMOS器件单粒子闩锁效应及其防护方法, Single event latch-up effect and mitigation technique in different sized CMOS devices, 强激光与粒子束, 2014, 第 8 作者
（22） CMOS器件SEL效应电路级防护设计及试验验证, Mitigation Technique and Experimental Verification of Single Event Latch-up Effect in Circuit Level for CMOS Device, 原子能科学技术, 2014, 第 6 作者
（23） 基于脉冲激光单粒子效应的二次光斑研究, Secondary Spot for Pulsed Laser SEE Testing, 原子能科学技术, 2013, 第 3 作者
（24） 脉冲激光试验评估模拟电路单粒子效应, Pulsed laser test of single event effects in analog circuits, 信息与电子工程, 2012, 第 5 作者
（25） Pulsed laser method for SEE testing in FPGAs, YUANZINENG KEXUE JISHU/ATOMIC ENERGY SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2012, 第 3 作者
（26） FPGA单粒子效应的脉冲激光试验方法研究, Pulsed Laser Method for SEE Testing in FPGAs, 原子能科学技术, 2012, 第 3 作者
（27） 大面积等离子体片微波反射特性研究, Microwave reflection characteristics of large area plasma sheet, 电波科学学报, 2010, 第 6 作者
（2） 基于FPGA的COTS器件辐射效应测试系统, 半导体技术, 2023, 第 3 作者
（3） Instruction-Fetching Attack and Practice in Collision Fault Attack on AES, SYMMETRY, 2022, 第 2 作者
（4） 基于激光注入的FPGA加密防护设计验证研究, 电子学报, 2022, 第 2 作者
（5） 脉冲激光诱发65 nm体硅CMOS加固触发器链的单粒子翻转敏感度研究, Sensibility of single event upset of hardened D flip-flop chain in 65 nm bulk silicon CMOS irradiated by pulsed laser, 航天器环境工程, 2021, 第 7 作者
（6） 基于微控制器的AES激光注入攻击研究, Research on Laser Injection Attack for AES Based on Micro-Controller Unit, 电子与信息学报, 2021, 第 2 作者
（7） A method for fault recognition in the last three rounds of Advanced Encryption Standard, ELECTRONICS LETTERS, 2021, 第 2 作者
（8） Flash芯片电流“尖峰”现象的脉冲激光试验, 北京航空航天大学学报, 2020, 第 2 作者
（9） Persistent Fault Attack in Practice, TRANSACTIONS ON CRYPTOGRAPHIC HARDWARE AND EMBEDDED SYSTEMS, 2020, 第 4 作者
（10） 空间辐射环境危害综合监测原理样机研制, Development of a space radiation hazard monitor, 航天器环境工程, 2019, 第 2 作者
（11） Precise methods for distinguishing S-box faults in laser injection attacks, ELECTRONICSLETTERS, 2019, 第 4 作者
（12） 激光模拟瞬态剂量率闩锁效应电流特征机制研究, Characteristics of latch-up current of dose rate effect by laser simulation, 物理学报, 2019, 第 4 作者
（13） Characteristics of latch-up current of dose rate effect by laser simulation, ACTA PHYSICA SINICA, 2019, 第 4 作者
（14） 0.13μm部分耗尽SOI工艺反相器链SET脉宽传播, Single event transient pulse width transmission of 0.13��m partial depleted SOI process DFF, 北京航空航天大学学报, 2019, 第 2 作者
（15） SEE Characteristics of COTS Devices by 1064nm Pulsed Laser Backside Testing, 2018 IEEE NUCLEAR AND SPACE RADIATION EFFECTS CONFERENCE, NSREC 2018, 2018, 第 5 作者
（16） 空间静电放电对集成运算放大器的干扰影响模拟试验研究, 中国科学: 技术科学, 2017, 第 2 作者
（17） 脉冲激光模拟空间载荷单粒子效应研究进展, Research Progress for Single Event Effects of Space Payloads by Pulsed Laser Simulation, 深空探测学报, 2017, 第 4 作者
（18） K6R4016V1D芯片在低地球轨道发生单粒子效应频次的分析, 空间科学学报, 2015, 第 7 作者
（19） SRAM型FPGA单粒子翻转效应加固方法, 北京航空航天大学学报, 2014, 第 3 作者
（20） 脉冲激光和重离子辐照FPGA产生的多位翻转效应的比较, 原子能科学技术, 2014, 第 3 作者
（21） 不同工艺尺寸CMOS器件单粒子闩锁效应及其防护方法, Single event latch-up effect and mitigation technique in different sized CMOS devices, 强激光与粒子束, 2014, 第 8 作者
（22） CMOS器件SEL效应电路级防护设计及试验验证, Mitigation Technique and Experimental Verification of Single Event Latch-up Effect in Circuit Level for CMOS Device, 原子能科学技术, 2014, 第 6 作者
（23） 基于脉冲激光单粒子效应的二次光斑研究, Secondary Spot for Pulsed Laser SEE Testing, 原子能科学技术, 2013, 第 3 作者
（24） 脉冲激光试验评估模拟电路单粒子效应, Pulsed laser test of single event effects in analog circuits, 信息与电子工程, 2012, 第 5 作者
（25） Pulsed laser method for SEE testing in FPGAs, YUANZINENG KEXUE JISHU/ATOMIC ENERGY SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2012, 第 3 作者
（26） FPGA单粒子效应的脉冲激光试验方法研究, Pulsed Laser Method for SEE Testing in FPGAs, 原子能科学技术, 2012, 第 3 作者
（27） 大面积等离子体片微波反射特性研究, Microwave reflection characteristics of large area plasma sheet, 电波科学学报, 2010, 第 6 作者
科研活动
科研项目
（ 1 ） 鸿鹄专项-临近空间对太阳风暴响应特征观测研究, 参与, 国家任务, 2018-10--2022-10
（ 2 ） 辐射效应风险监测载荷技术, 负责人, 国家任务, 2019-01--2020-12
（ 3 ） 激光破译密码芯片的精确故障模型研究, 负责人, 国家任务, 2019-01--2020-12
（ 4 ） 空间环境效应在轨监测技术研究, 负责人, 国家任务, 2020-01--2023-12
（ 5 ） 元器件单粒子效应分析, 负责人, 企业委托, 2020-01--2020-09
（ 6 ） SRAM/FPGA ESD试验分析, 负责人, 企业委托, 2019-07--2020-08
（ 7 ） 电子信息综合应用系统元器件辐照试验, 负责人, 企业委托, 2019-09--2020-12
（ 8 ） 单粒子翻转效应甄别与定位技术, 参与, 国家任务, 2018-01--2020-12
（ 9 ） 集成电路通用化辐射效应在线测试系统研制, 负责人, 企业委托, 2021-07--2022-04
（ 10 ） 航天用芯片高可用智能检测理论及方法研究, 负责人, 国家任务, 2021-10--2023-10
（ 2 ） 辐射效应风险监测载荷技术, 负责人, 国家任务, 2019-01--2020-12
（ 3 ） 激光破译密码芯片的精确故障模型研究, 负责人, 国家任务, 2019-01--2020-12
（ 4 ） 空间环境效应在轨监测技术研究, 负责人, 国家任务, 2020-01--2023-12
（ 5 ） 元器件单粒子效应分析, 负责人, 企业委托, 2020-01--2020-09
（ 6 ） SRAM/FPGA ESD试验分析, 负责人, 企业委托, 2019-07--2020-08
（ 7 ） 电子信息综合应用系统元器件辐照试验, 负责人, 企业委托, 2019-09--2020-12
（ 8 ） 单粒子翻转效应甄别与定位技术, 参与, 国家任务, 2018-01--2020-12
（ 9 ） 集成电路通用化辐射效应在线测试系统研制, 负责人, 企业委托, 2021-07--2022-04
（ 10 ） 航天用芯片高可用智能检测理论及方法研究, 负责人, 国家任务, 2021-10--2023-10
指导学生
现指导学生
龙明兵 硕士研究生 085400-电子信息