基本信息
朱翔  男  硕导  中国科学院国家空间科学中心
电子邮件: zhuxiang@nssc.ac.cn
通信地址: 北京市怀柔区京密北二街空间中心
邮政编码:

研究领域

空间环境效应监测

硬件设计及芯片安全

故障注入与诊断容错



招生信息

   
招生专业
085400-电子信息
招生方向
电路与电子系统设计
故障检测与防护
芯片安全

教育背景

2014-09--2020-06   中国科学院大学   博士
2005-09--2008-07   中国科学技术大学   硕士
2001-09--2005-07   中国科学技术大学   本科

工作经历

   
工作简历
2009-04~现在, 中国科学院国家空间科学中心, 高级工程师

教授课程

航天器空间环境效应

专利与奖励

   
奖励信息
(1) 集成电路抗单粒子效应激光试验评估技术, 二等奖, 部委级, 2019
专利成果
[1] 朱翔, 韩建伟, 李悦, 马英起, 陈睿, 上官士鹏. 一种器件单粒子效应薄弱点测绘甄别装置及方法. CN: CN110470968B, 2021-07-30.
[2] 朱翔, 韩建伟, 马英起, 上官士鹏, 李悦. 一种密码芯片的安全检测方法及其装置. CN: CN108173645B, 2021-02-02.
[3] 李悦, 朱翔, 马英起, 陈睿, 上官士鹏, 韩建伟. 一种多类型器件单粒子效应统筹监测系统及监测方法. CN: CN111781446A, 2020-10-16.
[4] 封国强, 马英起, 韩建伟, 上官士鹏, 朱翔, 陈睿. 一种用于半导体器件材料厚度的光学测量方法. 中国: CN105136049A, 2015.12.09.
[5] 封国强, 上官士鹏, 韩建伟, 马英起, 朱翔, 陈睿. 一种暴露芯片衬底面的封装方法. 中国: CN105070694A, 2015-11-18.
[6] 封国强, 马英起, 韩建伟, 上官士鹏, 朱翔, 陈睿. 一种用于半导体器件材料吸收系数的光学测量方法. 中国: CN105067529A, 2015-11-18.
[7] 封国强, 马英起, 韩建伟, 上官士鹏, 朱翔, 陈睿. 一种用于半导体器件材料反射率的光学测量方法. 中国: CN105004697A, 2015-10-28.

出版信息

   
发表论文
[1] 李赛, 陈睿, 韩建伟, 马英起, 上官士鹏, 李悦, 朱翔, 梁亚楠, 王璇. 脉冲激光诱发65 nm体硅CMOS加固触发器链的单粒子翻转敏感度研究. 航天器环境工程. 2021, 38(1): 55-62, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=7103978141.
[2] 姜会龙, 朱翔, 李悦, 马英起, 上官士鹏, 韩建伟, 蔡莹. 基于微控制器的AES激光注入攻击研究. 电子与信息学报. 2021, 1357-1364, https://kns.cnki.net/KCMS/detail/detail.aspx?dbcode=CJFQ&dbname=CJFDAUTO&filename=DZYX202105020&v=MzAzMDhITkRNcW85SFpJUjhlWDFMdXhZUzdEaDFUM3FUcldNMUZyQ1VSN3VmWWVSdUZpL2xWTC9CSVRmU2RyRzQ=.
[3] Huilong Jiang, Xiang Zhu, Jinfeng Pang, Zhipeng Liu, Jianwei Han, Yue Li. A method for fault recognition in the last three rounds of Advanced Encryption Standard. ELECTRONICS LETTERS[J]. 2021, 57(13): 511-513, http://dx.doi.org/10.1049/ell2.12188.
[4] 上官士鹏, 朱翔, 陈睿, 马英起, 李赛, 韩建伟. Flash芯片电流“尖峰”现象的脉冲激光试验. 北京航空航天大学学报. 2020, http://kns.cnki.net/KCMS/detail/detail.aspx?QueryID=0&CurRec=7&recid=&FileName=BJHK20200507001&DbName=CAPJLAST&DbCode=CJFQ&yx=Y&pr=&URLID=11.2625.V.20200508.1625.003&bsm=.
[5] Fan Zhang, Yiran Zhang, Huilong Jiang, Xiang Zhu, Shivam Bhasin, Xinjie Zhao, Zhe Liu, Dawu Gu, Kui Ren. Persistent Fault Attack in Practice. Transactions on Cryptographic Hardware and Embedded Systems[J]. 2020, https://doaj.org/article/05b00fadf66a4f46b222f2ed345ab6c1.
[6] Zhang, Fan, Zhang, Yiran, Jiang, Huilong, Zhu, Xiang, Lin, Feng, Ren, Kui. Precise methods for distinguishing S-box faults in laser injection attacks. ELECTRONICS LETTERS[J]. 2019, 55(25): 1333-1334, [7] 马英起, 朱翔, 李宏伟, 张振龙, 韩建伟. 空间辐射环境危害综合监测原理样机研制. 航天器环境工程. 2019, 36(1): 89-94, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=7001264859.
[8] 韩建伟, 李悦, 朱翔, 陈睿, 马英起, 陈钱. 激光模拟瞬态剂量率闩锁效应电流特征机制研究. 物理学报[J]. 2019, 68(12): 124202-, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=7002416366.
[9] Chen Qian, Ma YingQi, Chen Rui, Zhu Xiang, Li Yue, Han JianWei. Characteristics of latch-up current of dose rate effect by laser simulation. ACTA PHYSICA SINICA[J]. 2019, 68(12): https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000472505500010.
[10] 上官士鹏, 朱翔, 陈睿, 马英起, 李赛, 韩建伟. 0.13μm部分耗尽SOI工艺反相器链SET脉宽传播. 北京航空航天大学学报[J]. 2019, 45(11): 2193-2198, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=7100511170.
[11] Ma Yingqi, Han Jianwei, Shangguan Shipeng, Chen Rui, Zhu Xiang, Li Yue, Zhan Yueying. SEE Characteristics of COTS Devices by 1064nm Pulsed Laser Backside Testing. 2018 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference, NSREC 2018null. 2018, http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/6925.
[12] 郑汉生, 朱翔, 陈睿, 韩建伟, 张振龙. 空间静电放电对集成运算放大器的干扰影响模拟试验研究. 中国科学: 技术科学[J]. 2017, 47(1): 80-88, http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/5729.
[13] 韩建伟, 上官士鹏, 马英起, 朱翔, 陈睿, 李赛. 脉冲激光模拟空间载荷单粒子效应研究进展. 深空探测学报. 2017, 4(6): 577-584, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=674447643.
[14] 韩建伟, 封国强, 余永涛, 马英起, 上官士鹏, 陈睿, 朱翔. K6R4016V1D芯片在低地球轨道发生单粒子效应频次的分析. 空间科学学报[J]. 2015, 35(1): 64-68, http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/1010792.
[15] 姜昱光, 韩建伟, 朱翔, 蔡明辉. SRAM型FPGA单粒子翻转效应加固方法. 北京航空航天大学学报[J]. 2014, 40(8): 1073-1077, http://www.irgrid.ac.cn/handle/1471x/1010787.
[16] 封国强, 姜昱光, 朱翔, 韩建伟. 脉冲激光和重离子辐照FPGA产生的多位翻转效应的比较. 原子能科学技术. 2014, 732-736, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=89907483504849528349495156.
[17] 陈睿, 余永涛, 董刚, 上官士鹏, 封国强, 韩建伟, 马英起, 朱翔. 不同工艺尺寸CMOS器件单粒子闩锁效应及其防护方法. 强激光与粒子束. 2014, 26(7): 264-269, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=50028109.
[18] 陈睿, 冯颖, 余永涛, 上官士鹏, 封国强, 朱翔, 马英起, 韩建伟. CMOS器件SEL效应电路级防护设计及试验验证. 原子能科学技术. 2014, 48(4): 721-726, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=49359391.
[19] 姜昱光, 封国强, 朱翔, 马英起, 上官士鹏, 余永涛, 韩建伟. 基于脉冲激光单粒子效应的二次光斑研究. 原子能科学技术. 2013, 47(12): 2361-2364, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=48259028.
[20] 马英起, 封国强, 上官士鹏, 陈睿, 朱翔, 韩建伟. 脉冲激光试验评估模拟电路单粒子效应. 信息与电子工程. 2012, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=1001988095.
[21] Jiang, Yu-Guang, Feng, Guo-Qiang, Zhu, Xiang, Shangguan, Shi-Peng, Ma, Ying-Qi, Han, Jian-Wei. Pulsed laser method for SEE testing in FPGAs. Yuanzineng Kexue Jishu/Atomic Energy Science and Technology[J]. 2012, 46(SUPPL. 1): 582-586, http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/2859.
[22] 姜昱光, 封国强, 朱翔, 上官士鹏, 马英起, 韩建伟. FPGA单粒子效应的脉冲激光试验方法研究. 原子能科学技术. 2012, 46(B09): 582-586, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=43885155.
[23] 程芝峰, 徐跃民, 梁超, 丁亮, 鉴福升, 朱翔. 大面积等离子体片微波反射特性研究. 电波科学学报. 2010, 302-306, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=37132840.

科研活动

   
科研项目
( 1 ) 鸿鹄专项-临近空间对太阳风暴响应特征观测研究, 参与, 国家任务, 2018-10--2022-10
( 2 ) 辐射效应风险监测载荷技术, 负责人, 国家任务, 2019-01--2020-12
( 3 ) 激光破译密码芯片的精确故障模型研究, 负责人, 国家任务, 2019-01--2020-12
( 4 ) 空间环境效应在轨监测技术研究, 负责人, 国家任务, 2020-01--2023-12
( 5 ) 元器件单粒子效应分析, 负责人, 企业委托, 2020-01--2020-09
( 6 ) SRAM/FPGA ESD试验分析, 负责人, 企业委托, 2019-07--2020-08
( 7 ) 电子信息综合应用系统元器件辐照试验, 负责人, 企业委托, 2019-09--2020-12
( 8 ) 单粒子翻转效应甄别与定位技术, 参与, 国家任务, 2018-01--2020-12
( 9 ) 集成电路通用化辐射效应在线测试系统研制, 负责人, 企业委托, 2021-07--2022-04
( 10 ) 航天用芯片高可用智能检测理论及方法研究, 负责人, 国家任务, 2021-10--2023-10

指导学生

现指导学生

吴昊  硕士研究生  085208-电子与通信工程