基本信息

周东  男    中国科学院新疆理化技术研究所
电子邮件: zhoudong@ms.xjb.ac.cn
通信地址: 新疆乌鲁木齐市北京南路40-1号
邮政编码: 830011

研究领域

光电材料及成像器件辐射效应

招生信息

   
招生专业
080903-微电子学与固体电子学
招生方向
光电材料与器件辐射效应

教育背景

2009-09--2013-07   中国科学院大学   博士
2004-09--2008-06   湖北大学材料物理系   本科
学历

工作经历

   
工作简历
2017-10~现在, 中国科学院新疆理化技术研究所, 副研究员
2013-07~2017-09,中国科学院新疆理化技术研究所, 助理研究员

专利与奖励

   
奖励信息
(1) 星用光电成像器件的辐射效应与抗辐射加固研究, 一等奖, 省级, 2018
专利成果
( 1 ) 辐照后互补金属氧化物半导体光子转移曲线和转换增益的测试方法, 发明, 2018, 第 5 作者, 专利号: 106840613A
( 2 ) 一种基于光斑的电荷耦合器件电荷转移效率通用测试方法, 发明, 2017, 第 4 作者, 专利号: 107144755A
( 3 ) 基于递归算法的图像传感器单粒子效应瞬态亮斑识别方法, 发明, 2018, 第 4 作者, 专利号: 108537809A

出版信息

   
发表论文
[1] Liu, Bingkai, Li, Yudong, Wen, Lin, Zhou, Dong, Feng, Jie, Ma, Lindong, Zhang, Xiang, Cai, Yulong, Wang, Zhiming, Fu, Jing, Guo, Qi, Ma, Ding. A study of hot pixels induced by proton and neutron irradiations in charge coupled devices. RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS[J]. 2020, 175(5-6): 540-550, https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000532610100013.
[2] 王志铭, 周东, 郭旗, 李豫东, 文林, 马林东, 张翔, 蔡毓龙, 刘炳凯. γ辐照导致中波碲镉汞光伏器件暗电流退化的机理研究. 红外与激光工程. 2019, 192-199, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=72878974504849574857485055.
[3] Cai, YuLong, Guo, Qi, Li, YuDong, Wen, Lin, Zhou, Dong, Feng, Jie, Ma, LinDong, Zhang, Xiang, Wang, TianHui. Heavy ion-induced single event effects in active pixel sensor array. SOLID-STATE ELECTRONICS[J]. 2019, 152(2): 93-99, http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/5645.
[4] Zhou, Dong, Wu, Liangcai, Wen, Lin, Ma, Liya, Zhang, Xingyao, Li, Yudong, Guo, Qi, Song, Zhitang. Electron-beam-irradiation-induced crystallization of amorphous solid phase change materials. JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS[J]. 2018, 57(4): https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000427883300001.
[5] Ma, Lindong, Li, Yudong, Guo, Qi, Wen, Lin, Zhou, Dong, Feng, Jie, Liu, Yuan, Zeng, Junzhe, Zhang, Xiang, Wang, Tianhui. Analysis of proton and gamma-ray radiation effects on CMOS active pixel sensors. CHINESE PHYSICS B[J]. 2017, 26(11): https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000415072400012.
[6] 冯婕, 周东, 马林东, 李豫东, 文林. CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理. 光学精密工程. 2017, 25(10): 2676-2681, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=673651626.

科研活动

   
科研项目
( 1 ) HgCdTe红外探测器辐射感生缺陷的退火机制研究, 主持, 国家级, 2018-01--2020-12
( 2 ) 质子位移效应研究, 参与, 国家级, 2014-01--2019-12
( 3 ) CMOS图像传感器单粒子效应, 参与, 国家级, 2017-01--2019-12
( 4 ) 新型元器件位移损伤试验评估及验证, 参与, 国家级, 2016-01--2020-12
( 5 ) 红外探测器质子辐照瞬时效应, 主持, 市地级, 2019-01--2020-12