奖励信息
(1) 中国光学工程奖, 一等奖, 部委级, 2024(2) “挑战杯”首都大学生创业计划竞赛主赛道, 三等奖, 专项, 2024(3) 中国国际大学生创新创业大赛北京赛区, 三等奖, 专项, 2024(4) 中国科学院大学生创新实践训练计划, 特等奖, 专项, 2024(5) 第二届“光创杯”研究生创新创业大赛, 三等奖, 专项, 2024(6) 第五届中国质量提名奖, , 国家级, 2023(7) 中国精品科技期刊顶尖学术论文奖F5000, , 部委级, 2023(8) 中科院长春光机所优秀成果奖, 特等奖, 研究所(学校), 2022(9) 吉林省专利优秀奖, 一等奖, 省级, 2022(10) 中科院大创项目, 一等奖, 研究所(学校), 2022(11) 第一届光创杯创新创业大赛, 一等奖, 研究所(学校), 2022(12) 长白山人才, 一等奖, 省级, 2021(13) 第四届中国质量奖提名奖, , 国家级, 2021(14) 中科院长春光机所优秀成果奖, 特等奖, 研究所(学校), 2020(15) 军队科技进步一等奖, 一等奖, 部委级, 2019(16) 中国精品科技期刊顶尖学术论文奖, 特等奖, 其他, 2018(17) 吉林省技术发明一等奖, 一等奖, 省级, 2018(18) 中国专利奖优秀奖, , 国家级, 2017(19) 中国精品科技期刊顶尖学术论文奖, 特等奖, 其他, 2016(20) 吉林省专利奖金奖, 特等奖, 省级, 2016(21) 中国科学院杰出科技成就奖, 特等奖, 院级, 2015(22) 中国精品科技期刊顶尖学术论文奖, 特等奖, 其他, 2015(23) 长白青年科技奖, 一等奖, 省级, 2010(24) 中科院大恒光学特别奖, 特等奖, 院级, 2008
专利成果
( 1 ) 两相结构RB-SiC材料亚表面缺陷的高精度检测方法, 发明授权, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN118883219B( 2 ) 用于透射式相位偏折波前测量系统的相机外参标定方法, 发明授权, 2024, 第 3 作者, 专利号: CN118840435B( 3 ) 大口径光学元件研磨加工阶段面形与亚表面缺陷的线扫描式快速干涉检测装置, 发明授权, 2024, 第 2 作者, 专利号: CN118758960B( 4 ) 基于人眼波前和视网膜成像的视网膜离焦检测设备及方法, 发明授权, 2024, 第 3 作者, 专利号: CN118717029B( 5 ) 眼底屈光地形图生成方法、终端设备及计算机存储介质, 发明授权, 2024, 第 3 作者, 专利号: CN118526155B( 6 ) 用于微纳制造技术的双远心图像位置对准测量镜头, 发明授权, 2024, 第 3 作者, 专利号: CN118033878B( 7 ) 一种大口径高次凸非球面面形检测方法, 发明专利, 2024, 第 4 作者, 专利号: CN118111355A( 8 ) 用于微纳制造技术的双远心图像位置对准测量镜头, 发明专利, 2024, 第 3 作者, 专利号: CN118033878A( 9 ) 一种线膨胀系数检测装置及方法, 发明授权, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN117783199B( 10 ) 一种线膨胀系数检测装置及方法, 发明专利, 2024, 第 1 作者, 专利号: ZL 202410213681.3( 11 ) 抛光与原位检测装置及抛光加工方法, 发明专利, 2024, 第 1 作者, 专利号: ZL 202410150752.X( 12 ) 抛光磨头、抛光与原位检测装置及抛光加工方法, 发明专利, 2024, 第 1 作者, 专利号: ZL 202410150750.0( 13 ) 抛光磨头、抛光与原位检测装置及抛光加工方法, 发明授权, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN117681083B( 14 ) 抛光与原位检测装置及抛光加工方法, 发明授权, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN117681084B( 15 ) 基于双远心镜头的高精度图像位置对准系统的设计方法, 发明授权, 2024, 第 3 作者, 专利号: CN117741965B( 16 ) 一种多面共体光学元件的等离子体抛光装置及抛光方法, 发明专利, 2024, 第 5 作者, 专利号: CN117884986A( 17 ) 基于双远心镜头的高精度图像位置对准系统的设计方法, 发明专利, 2024, 第 3 作者, 专利号: ZL 202410189200.X( 18 ) 一种线膨胀系数检测装置及方法, 发明专利, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN117783199A( 19 ) 基于双远心镜头的高精度图像位置对准系统的设计方法, 发明专利, 2024, 第 3 作者, 专利号: CN117741965A( 20 ) 一种光学平面面形绝对检测方法, 发明授权, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN117490604B( 21 ) 一种光学平面面形绝对检测方法, 发明专利, 2024, 第 1 作者, 专利号: ZL 202410004055.3( 22 ) 抛光与原位检测装置及抛光加工方法, 发明专利, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN117681084A( 23 ) 抛光磨头、抛光与原位检测装置及抛光加工方法, 发明专利, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN117681083A( 24 ) 干涉检测中串扰条纹的仿真方法, 发明授权, 2024, 第 6 作者, 专利号: CN117369126B( 25 ) 基于二维散射实现光学元件表面缺陷的评估方法及系统, 发明专利, 2024, 第 1 作者, 专利号: ZL 202311470300.1( 26 ) 一种光学平面面形绝对检测方法, 发明专利, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN117490604A( 27 ) 基于二维散射实现光学元件表面缺陷的评估方法及系统, 发明授权, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN117232790B( 28 ) 干涉检测中串扰条纹的仿真方法, 发明专利, 2024, 第 6 作者, 专利号: CN117369126A( 29 ) 基于二维散射实现光学元件表面缺陷的评估方法及系统, 发明专利, 2023, 第 1 作者, 专利号: CN117232790A( 30 ) 干涉检测中串扰条纹的仿真方法, 发明专利, 2023, 第 6 作者, 专利号: ZL 2023 1 1659260.5( 31 ) 基于仪器传递函数的光学元件拼接检测方法, 发明专利, 2023, 第 1 作者, 专利号: ZL202310862186.0( 32 ) 球面测试板及其制作方法以及干涉仪传递函数的标定方法, 发明授权, 2023, 第 1 作者, 专利号: CN116586640B( 33 ) 基于仪器传递函数的光学元件拼接检测方法, 发明授权, 2023, 第 1 作者, 专利号: CN116577931B( 34 ) 球面测试板及其制作方法以及干涉仪传递函数的标定方法, 发明专利, 2023, 第 1 作者, 专利号: ZL202310862185.6( 35 ) 球面测试板及其制作方法以及干涉仪传递函数的标定方法, 发明专利, 2023, 第 1 作者, 专利号: CN116586640A( 36 ) 基于仪器传递函数的光学元件拼接检测方法, 发明专利, 2023, 第 1 作者, 专利号: CN116577931A( 37 ) 基于机械臂的大口径光学元件表面缺陷检测方法及装置, 发明授权, 2023, 第 1 作者, 专利号: CN116358842B( 38 ) 基于机械臂的大口径光学元件表面缺陷检测方法及装置, 发明专利, 2023, 第 1 作者, 专利号: ZL202310649207.0( 39 ) 自由曲面光学镜片检测方法, 发明授权, 2023, 第 1 作者, 专利号: CN116105633B( 40 ) 一种自由曲面光学镜片高精度检测的方法, 发明专利, 2023, 第 1 作者, 专利号: ZL202310404566.X( 41 ) 检测光学自由曲面反射镜面形的方法及装置, 发明授权, 2023, 第 1 作者, 专利号: CN113776460B( 42 ) 抛光磨头、抛光设备、光学镜片非球面模具的抛光方法, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN115383560A( 43 ) 大口径凸非球面反射镜面形检测装置及其检测方法, 发明专利, 2022, 第 1 作者, 专利号: CN115164775A( 44 ) 一种稳定保水的水基研磨抛光液, 发明专利, 2022, 第 6 作者, 专利号: CN115109523A( 45 ) 一种超光滑磁流变抛光液及其制备方法, 发明专利, 2022, 第 6 作者, 专利号: CN114958208A( 46 ) 金属材料的抛光液、抛光磨盘及抛光方法, 发明专利, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN113528027A( 47 ) 检测光学自由曲面反射镜面形的方法及装置, 发明专利, 2021, 第 1 作者, 专利号: CN202111034144.5( 48 ) 一种水基磁流变抛光液及其配制方法, 专利授权, 2021, 第 3 作者, 专利号: CN111100559B( 49 ) 一种基于热塑性材料的变形研抛磨盘, 发明专利, 2021, 第 2 作者, 专利号: CN113118918A( 50 ) 一种磁射流抛光液及其制备方法, 专利授权, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN111019529B( 51 ) 一种多焦点光学元件及其设计方法, 发明专利, 2021, 第 3 作者, 专利号: CN110989062B( 52 ) 宽波段消色差多焦点显微成像光学系统, 专利授权, 2021, 第 1 作者, 专利号: CN110873958B( 53 ) 一种可变形研抛盘, 发明专利, 2021, 第 3 作者, 专利号: CN112571203A( 54 ) 大口径凸非球面光学元件的面形精度检测装置及检测方法, 发明专利, 2021, 第 1 作者, 专利号: CN112461156A( 55 ) 光楔补偿器标定系统及其标定方法, 发明专利, 2020, 第 1 作者, 专利号: CN111929037A( 56 ) 大口径光学元件面形拼接检测方法及设备, 发明专利, 2020, 第 1 作者, 专利号: CN110966954A( 57 ) 一种半导体器件及其制作方法, 专利授权, 2020, 第 4 作者, 专利号: CN107665807B( 58 ) 预测反射式拼接镜随机制造误差对出瞳波前影响的方法, 专利授权, 2019, 第 3 作者, 专利号: CN110375965A( 59 ) 一种凸非球面反射镜面形的检测装置及检测方法, 发明专利, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN109855560A( 60 ) 一种大口径反射镜面形的检测装置及检测方法, 发明专利, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN109855561A( 61 ) 一种多焦点衍射元件的制备方法及多焦点衍射元件, 专利授权, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN109581558A( 62 ) 一种薄膜衍射元件的设计方法及薄膜衍射元件, 发明专利, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN109541735A( 63 ) 一种凸非球面反射镜面形检测装置及检测方法, 专利授权, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN107796329A( 64 ) 一种混合补偿式子孔径拼接面形检测方法, 专利授权, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN107782254A( 65 ) 一种磁流变抛光轮对非球面光学元件进行对准加工方法, 发明专利, 2017, 第 4 作者, 专利号: CN106826402A( 66 ) 一种复杂曲面的加工方法, 发明专利, 2017, 第 4 作者, 专利号: CN106826463A( 67 ) 大口径非球面在线轮廓检测装置及其检测方法, 发明专利, 2017, 第 4 作者, 专利号: CN106840024A( 68 ) 一种半导体器件及其制作方法, 专利授权, 2017, 第 4 作者, 专利号: CN106707715A( 69 ) 一种离轴三反非球面光学系统共基准检测与加工方法, 发明专利, 2016, 第 2 作者, 专利号: CN106225713A( 70 ) 一种用于磁流变加工设备中缎带凸起的光学标定方法, 发明专利, 2016, 第 4 作者, 专利号: CN106225714A( 71 ) 一种离轴三反非球面光学系统共基准检测与加工方法, 发明专利, 2016, 第 2 作者, 专利号: CN106225712A( 72 ) 离轴三反非球面系统凸非球面次镜面形拼接检测方法, 发明专利, 2014, 第 1 作者, 专利号: CN104142129A( 73 ) 大口径大偏离量非球面反射镜抛光过程中复合检测方法, 发明专利, 2014, 第 1 作者, 专利号: CN104006759A( 74 ) 一种测量超长导轨直线度的方法, 发明专利, 2013, 第 1 作者, 专利号: CN103017690A( 75 ) 采用三坐标测量仪拼接测量大口径非球面面形的方法, 发明专利, 2013, 第 1 作者, 专利号: CN102980532A( 76 ) 采用平行光管拼接检测超大口径反射镜面形误差的方法, 发明专利, 2013, 第 1 作者, 专利号: CN102927930A( 77 ) 采用激光跟踪仪检测离轴非球面偏心量的方法, 发明专利, 2013, 第 3 作者, 专利号: CN102879182A( 78 ) 子孔径拼接检测非球面调整误差补偿方法, 发明专利, 2012, 第 1 作者, 专利号: CN102620683A( 79 ) 大口径离轴凸非球面反射镜面形检测方法, 发明专利, 2012, 第 1 作者, 专利号: CN102519388A( 80 ) 部分补偿非球面反射镜面形检测方法, 发明专利, 2012, 第 1 作者, 专利号: CN102506750A( 81 ) 非球面反射镜自动加工装置, 发明专利, 2012, 第 2 作者, 专利号: CN102490104A( 82 ) 采用激光跟踪仪测量非球面顶点曲率半径偏差的方法, 发明专利, 2011, 第 2 作者, 专利号: CN102288132A( 83 ) 一种光学球面曲率半径的检测方法, 发明专利, 2011, 第 1 作者, 专利号: CN102168955A( 84 ) 接触式非球面面形检验装置, 发明专利, 2011, 第 1 作者, 专利号: CN102128599A( 85 ) 非零位补偿浅度光学非球面面形检测方法, 发明专利, 2011, 第 1 作者, 专利号: CN101949691A( 86 ) 子孔径拼接干涉检测光学非球面面形的装置, 发明专利, 2010, 第 1 作者, 专利号: CN101709955A