基本信息
姜鹏飞 中国科学院微电子研究所
电子邮件: jiangpengfei@ime.ac.cn
通信地址: 北京市朝阳区北土城西路3号
邮政编码:
电子邮件: jiangpengfei@ime.ac.cn
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研究领域
新型存储器
招生信息
招生专业
140100-集成电路科学与工程
085403-集成电路工程
招生方向
新型存储器
教育背景
2019-09--2022-06 中国科学院微电子研究所 博士2016-09--2019-06 西安电子科技大学 硕士2012-09--2016-06 南京邮电大学 学士
工作经历
工作简历
2025-09~现在, 中国科学院微电子研究所, 副研究员2022-07~2025-09,中国科学院微电子研究所, 博士后
专利与奖励
专利成果
( 1 ) 一种实现可重构存储模式切换的方法及存储器件, 发明专利, 2026, 第 2 作者, 专利号: CN121415831A( 2 ) 一种非对称结构场效应晶体管及其制备方法, 发明专利, 2025, 第 1 作者, 专利号: CN121194485A( 3 ) 一种HfO2基铁电场效应晶体管的制备方法, 发明专利, 2025, 第 1 作者, 专利号: CN121174539A( 4 ) 铁电场效应晶体管存储器及其制备方法, 发明专利, 2025, 第 1 作者, 专利号: CN121152214A( 5 ) 铁电场效应晶体管存储器及其制备方法, 发明专利, 2025, 第 1 作者, 专利号: CN121126789A( 6 ) 铁电电容器双退火工艺、制备方法以及铁电电容器, 发明专利, 2025, 第 1 作者, 专利号: CN121075948A( 7 ) 一种基于环栅结构的铁电场效应晶体管的存储器件, 发明专利, 2025, 第 1 作者, 专利号: CN120201724A( 8 ) 一种立体电容器及其制作方法、铁电存储器, 发明专利, 2025, 第 1 作者, 专利号: CN120187281A( 9 ) 基于脉冲的数据保持方法、装置、存储介质及计算机设备, 发明专利, 2025, 第 1 作者, 专利号: CN120183457A( 10 ) 一种氧化铪基铁电电容器, 实用新型, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN221449031U( 11 ) 反铁电存储器, 发明专利, 2023, 第 4 作者, 专利号: CN111769122A( 12 ) 一种HfO2基铁电电容器及其制备方法和HfO2及铁电存储器, 发明专利, 2023, 第 2 作者, 专利号: CN111668372A( 13 ) HfO2基铁电电容器及制备方法、存储器, 发明专利, 2022, 第 2 作者, 专利号: CN115249766A( 14 ) 一种铁电存储器及其制备方法、应用, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN114927525A( 15 ) 一种半导体器件制备方法, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN114628233A( 16 ) 一种半导体器件的制备方法, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN114628236A( 17 ) 一种铁电膜的制作方法和半导体器件的制作方法, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN114628235A( 18 ) 一种铁电半导体器件的制备方法, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN114628234A( 19 ) 一种铁电半导体器件的制备方法, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN114606469
出版信息
发表论文
(1) A Fully BEOL-compatible (300℃ Annealing) IGZO FeFET with Ultra-high Memory Window (10V) and Prominent Endurance (10^9 ), IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2025, 第 2 作者 通讯作者(2) Fatigue of ferroelectric field effect transistor: mechanisms and optimization strategies, Journal of Semiconductors, 2025, 第 2 作者 通讯作者(3) A 256 Kbit Hf0.5Zr0.5O2-based FeRAM Chip with Scaled Film Thickness(sub8nm), Low Thermal Budget(350℃), 100% Initial Chip Yield, Low Power Consumption(0.7pJ/bit at 2V write voltage), and Prominent Endurance (>10^12), IEEE Intentional Electron Devices Meeting (IEDM), 2024, 第 1 作者(4) Demonstration of Large MW and Prominent Endurance in a Hf0.5Zr0.5O2 FeFET With IGZO Channel Utilizing Postdeposition Annealing, IEEE Electron Device Letters, 2024, 第 2 作者 通讯作者(5) Stress effects of interconnecting metals on back-end-of-line compatible Hf0.5Zr0.5O2 ferroelectric capacitors, IEEE Electron Device Letters, 2023, 第 1 作者(6) Freely switching between ferroelectric and resistive switching in Hf0.5Zr0.5O2 films and its application on high accuracy on-chip deep neural networks, Science China Information Sciences, 2023, 第 1 作者(7) Stabilizing Remanent Polarization during Cycling in HZO‐Based Ferroelectric Device by Prolonging Wake‐up Period, Advanced Electronic Materials, 2021, 第 1 作者(8) Wake‐Up Effect in HfO2‐Based Ferroelectric Films, Advanced Electronic Materials, 2021, 第 1 作者
科研活动
科研项目
( 1 ) HfO2基铁电存储器, 参与, 国家任务, 2025-01--2029-12( 2 ) 面向多模态DRAM应用的垂直环形沟道(CAA)铪基铁电晶体管研究, 负责人, 国家任务, 2024-01--2026-12