基本信息

陈成 男 中国科学院上海光学精密机械研究所
电子邮件: chengchen2020@siom.ac.cn
通信地址: 上海市嘉定区清河路390号、上海市嘉定区汇旺路899号
邮政编码: 201800
电子邮件: chengchen2020@siom.ac.cn
通信地址: 上海市嘉定区清河路390号、上海市嘉定区汇旺路899号
邮政编码: 201800
个人简介
陈成,1991年生,博士,中国科学院上海光学精密机械研究所副研究员。获华中科技大学仪器科学与技术工学博士学位,博士论文获中国仪器仪表学会优秀博士论文提名,曾就职于上海交通大学,获上海市“超级博士后”、中国博士后科学基金面上、站中特别资助等项目的支持。长期深耕于三维表面形貌高精度测量及仪器方面的研究,深入研究了光学干涉与散射测量、共焦测量、色散共焦测量等光学测量技术的基础理论、核心算法、仪器设计。主持国家自然科学基金、国家自然科学基金重点项目课题等项目。发表领域内代表性国际期刊论文21篇,获国内发明专利公开10余项。
招生信息
招生专业
080300-光学工程
科研与招生方向
精密光学测量,计算成像,在线检测,干涉与散射测量,精密光电仪器设计
教育背景
2015-09--2020-10 华中科技大学 博士研究生,工学博士
2011-09--2015-06 华中科技大学 本科,工学学士
2011-09--2015-06 华中科技大学 本科,工学学士
工作经历
工作简历
2023-09~现在, 上海光学精密机械研究所, 副研究员
2022-11~2023-09,上海光学精密机械研究所, 助理研究员
2021-03~2022-11,上海交通大学, 助理研究员,博士后研究员
2020-11~2021-03,上海交通大学, 博士后研究员
2022-11~2023-09,上海光学精密机械研究所, 助理研究员
2021-03~2022-11,上海交通大学, 助理研究员,博士后研究员
2020-11~2021-03,上海交通大学, 博士后研究员
专利与奖励
奖励信息
(1) 仪器仪表学会全国优秀博士论文提名, 二等奖, 其他, 2021
(2) 上海市“超级博士后”, 一等奖, 市地级, 2021
(2) 上海市“超级博士后”, 一等奖, 市地级, 2021
专利成果
( 1 ) 多波长线共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 2 作者, 专利号: CN113959365A
( 2 ) 双波长光纤线阵列色散共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 1 作者, 专利号: CN113959368A
( 3 ) 多波长单光纤共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN113959366A
( 4 ) 多波长光纤线阵列共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN113959371A
( 5 ) 双波长单光纤色散共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN113900244A
( 6 ) 双波长点色散共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 1 作者, 专利号: CN113959370A
( 7 ) 多波长点共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 2 作者, 专利号: CN113959367A
( 8 ) 双波长线色散共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN113959369A
( 9 ) 基于差分投影的立体视觉检测方法及检测装置, 发明专利, 2021, 第 5 作者, 专利号: CN112648936A
( 10 ) 基于立体视觉引导的目标位置三维形貌高精度快速测量方法和装置, 发明专利, 2022, 第 7 作者, 专利号: CN114543702A
( 11 ) 一种色散共焦显微镜的特性参量的优化方法, 发明专利, 2020, 第 2 作者, 专利号: CN111208633B
( 12 ) 一种提取峰值位置索引坐标的方法、系统及计算机可读介质, 专利授权, 2020, 第 2 作者, 专利号: CN110749280B
( 13 ) 一种基于神经网络的色散共焦测量装置标定方法, 发明授权, 2020, 第 3 作者, 专利号: CN109612686B
( 14 ) 一种利用动态阈值重心法提取共焦显微峰值的方法, 发明授权, 2019, 第 2 作者, 专利号: CN109540806B
( 15 ) 一种用于色散共焦峰值提取的补偿拟合差分信号方法, 发明授权, 2019, 第 2 作者, 专利号: CN109186458B
( 16 ) 用于共焦显微镜峰值提取的动态补偿重心方法, 发明专利, 2018, 第 2 作者, 专利号: CN107632383B
( 2 ) 双波长光纤线阵列色散共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 1 作者, 专利号: CN113959368A
( 3 ) 多波长单光纤共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN113959366A
( 4 ) 多波长光纤线阵列共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN113959371A
( 5 ) 双波长单光纤色散共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN113900244A
( 6 ) 双波长点色散共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 1 作者, 专利号: CN113959370A
( 7 ) 多波长点共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 2 作者, 专利号: CN113959367A
( 8 ) 双波长线色散共焦显微探测方法与装置, 发明专利, 2022, 第 3 作者, 专利号: CN113959369A
( 9 ) 基于差分投影的立体视觉检测方法及检测装置, 发明专利, 2021, 第 5 作者, 专利号: CN112648936A
( 10 ) 基于立体视觉引导的目标位置三维形貌高精度快速测量方法和装置, 发明专利, 2022, 第 7 作者, 专利号: CN114543702A
( 11 ) 一种色散共焦显微镜的特性参量的优化方法, 发明专利, 2020, 第 2 作者, 专利号: CN111208633B
( 12 ) 一种提取峰值位置索引坐标的方法、系统及计算机可读介质, 专利授权, 2020, 第 2 作者, 专利号: CN110749280B
( 13 ) 一种基于神经网络的色散共焦测量装置标定方法, 发明授权, 2020, 第 3 作者, 专利号: CN109612686B
( 14 ) 一种利用动态阈值重心法提取共焦显微峰值的方法, 发明授权, 2019, 第 2 作者, 专利号: CN109540806B
( 15 ) 一种用于色散共焦峰值提取的补偿拟合差分信号方法, 发明授权, 2019, 第 2 作者, 专利号: CN109186458B
( 16 ) 用于共焦显微镜峰值提取的动态补偿重心方法, 发明专利, 2018, 第 2 作者, 专利号: CN107632383B
出版信息
发表论文
(1) Portable angle-resolved scattering system to measure high spatial frequency roughness for ultra-smooth surfaces, OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING, 2024, 第 3 作者
(2) Honeycomb effect elimination in differential phase fiber-bundle-based endoscopy, Optics Express, 2024, 第 2 作者
(3) Sparse domain robust denoising pipeline in optically-sectioned structured illumination microscopy for complex surface measurement, Optics and Lasers in Engineering, 2024, 第 2 作者
(4) 用于表面形貌测量的扫描白光干涉技术进展, Advances in Scanning White Light Interferometry for Surface Topography Measurement, 激光与光电子学进展, 2023, 第 7 作者
(5) Parallel multi-slit modulation and decoding technique for high-resolution surface measurement in structured illumination microscopy, OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING, 2023, 第 2 作者
(6) Asymmetry robust centroid localization in confocal microscopy, OPTICS LETTERS, 2022, 第 1 作者
(7) Crosstalk decoupling measurement method to determine the six degrees of freedom of motion error of linear stages, APPLIED OPTICS, 2022, 第 2 作者
(8) Deep learning based one-shot optically-sectioned structured illumination microscopy for surface measurement, OPTICS EXPRESS, 2021, 第 2 作者
(9) Two-dimensional spectral signal model for chromatic confocal microscopy, OPTICS EXPRESS, 2021, 第 1 作者
(10) Locally adaptive thresholding centroid localization in confocal microscopy, OPTICS LETTERS, 2021, 第 1 作者
(11) Traceable atomic force microscope based on monochromatic light interference, PRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY, 2020, 第 6 作者
(12) Unambiguous measurement range and error tolerance in dual-wavelength interferometry, APPLIED OPTICS, 2020, 第 4 作者
(13) Rapid characterization of nano-scale structures in large-scale ultra-precision surfaces, OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING, 2020, 第 5 作者
(14) Dual-Probe Atomic Force Microscopy based on tuning fork probes for critical dimension metrology, ULTRAMICROSCOPY, 2020, 第 6 作者
(15) A rapid measurement method for structured surface in white light interferometry, Journal of Microscopy, 2019, 第 5 作者
(16) Influence of optical aberrations on the peak extraction in confocal microscopy, OPTICS COMMUNICATIONS, 2019, 第 1 作者
(17) Corrected parabolic fitting for height extraction in confocal microscopy, OPTICS EXPRESS, 2019, 第 1 作者
(18) Fast and accurate mean-shift vector based wavelength extraction for chromatic confocal microscopy, MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2019, 第 2 作者
(19) Accurate and efficient height extraction in chromatic confocal microscopy using corrected fitting of the differential signal, PRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY, 2019, 第 1 作者
(20) Influence of sample surface height for evaluation of peak extraction algorithms in confocal microscopy, APPLIED OPTICS, 2018, 第 1 作者
(2) Honeycomb effect elimination in differential phase fiber-bundle-based endoscopy, Optics Express, 2024, 第 2 作者
(3) Sparse domain robust denoising pipeline in optically-sectioned structured illumination microscopy for complex surface measurement, Optics and Lasers in Engineering, 2024, 第 2 作者
(4) 用于表面形貌测量的扫描白光干涉技术进展, Advances in Scanning White Light Interferometry for Surface Topography Measurement, 激光与光电子学进展, 2023, 第 7 作者
(5) Parallel multi-slit modulation and decoding technique for high-resolution surface measurement in structured illumination microscopy, OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING, 2023, 第 2 作者
(6) Asymmetry robust centroid localization in confocal microscopy, OPTICS LETTERS, 2022, 第 1 作者
(7) Crosstalk decoupling measurement method to determine the six degrees of freedom of motion error of linear stages, APPLIED OPTICS, 2022, 第 2 作者
(8) Deep learning based one-shot optically-sectioned structured illumination microscopy for surface measurement, OPTICS EXPRESS, 2021, 第 2 作者
(9) Two-dimensional spectral signal model for chromatic confocal microscopy, OPTICS EXPRESS, 2021, 第 1 作者
(10) Locally adaptive thresholding centroid localization in confocal microscopy, OPTICS LETTERS, 2021, 第 1 作者
(11) Traceable atomic force microscope based on monochromatic light interference, PRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY, 2020, 第 6 作者
(12) Unambiguous measurement range and error tolerance in dual-wavelength interferometry, APPLIED OPTICS, 2020, 第 4 作者
(13) Rapid characterization of nano-scale structures in large-scale ultra-precision surfaces, OPTICS AND LASERS IN ENGINEERING, 2020, 第 5 作者
(14) Dual-Probe Atomic Force Microscopy based on tuning fork probes for critical dimension metrology, ULTRAMICROSCOPY, 2020, 第 6 作者
(15) A rapid measurement method for structured surface in white light interferometry, Journal of Microscopy, 2019, 第 5 作者
(16) Influence of optical aberrations on the peak extraction in confocal microscopy, OPTICS COMMUNICATIONS, 2019, 第 1 作者
(17) Corrected parabolic fitting for height extraction in confocal microscopy, OPTICS EXPRESS, 2019, 第 1 作者
(18) Fast and accurate mean-shift vector based wavelength extraction for chromatic confocal microscopy, MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2019, 第 2 作者
(19) Accurate and efficient height extraction in chromatic confocal microscopy using corrected fitting of the differential signal, PRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY, 2019, 第 1 作者
(20) Influence of sample surface height for evaluation of peak extraction algorithms in confocal microscopy, APPLIED OPTICS, 2018, 第 1 作者
科研活动
科研项目
( 1 ) 曲面基底光学微结构的“5+X”架构六轴联动加工与在 机测量技术研究, 参与, 国家任务, 2024-01--2028-12
( 2 ) 曲面光栅表面形貌光学检测技术, 参与, 中国科学院计划, 2023-10--2027-07
( 3 ) 色散结构光显微镜, 负责人, 国家任务, 2022-01--2024-12
( 2 ) 曲面光栅表面形貌光学检测技术, 参与, 中国科学院计划, 2023-10--2027-07
( 3 ) 色散结构光显微镜, 负责人, 国家任务, 2022-01--2024-12
指导学生
联合指导学生
徐黎轩
罗阳