082703-核技术及应用

质子重离子质量保证探测器研究

2011-09--2016-07   中国科学技术大学   博士学位
2007-09--2011-07   长安大学   学士学位

   

2016-07~2019-07,华中科技大学, 博士后

   

（ 1 ） 用于离子FLASH装置的质量保证系统及方法, 发明授权, 2024, 第 1 作者, 专利号: CN117815576B

（ 2 ） 一种射线剂量横向分布测量装置及方法, 专利授权, 2022, 第 1 作者, 专利号: ZL 2022 1 1647517.0

（ 3 ） 一种用于放疗过程中终端质量保证的密封水箱, 发明专利, 2022, 第 4 作者, 专利号: CN114796899A

（ 4 ） 一种用于碳离子束测量的多层法拉第筒测量系统及方法, 发明专利, 2022, 第 1 作者, 专利号: CN114660652A

（ 5 ） 一种用于辐射区的束流位置及流强测量装置, 发明专利, 2022, 第 5 作者, 专利号: CN114531782A

（ 6 ） 一种多页法拉第杯及测量方法, 专利授权, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN110246736A

（ 7 ） 一种紧凑型束斑检测器组件, 实用新型, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN207352180U

   

（1） Dosimetric saturation effect study and correction calculation method of ionization chamber at ultra-high dose rate (FLASH), RADIATION PHYSICS AND CHEMISTRY, 2025, 第 4 作者
（2） Development of a water-cooled scintillation screen for high-current beam profiling, JOURNAL OF INSTRUMENTATION, 2024, 第 2 作者
（3） 高功率环境下多丝靶设计及运行考虑, Design and operation experiences of a multi-wire detector under high beam power environment, 核技术, 2024, 第 5 作者
（4） Transverse beam size measurement system using visible synchrotron radiation at HLS II, CHINESE PHYSICS C, 2016, 第 1 作者  通讯作者
（5） HLSⅡ干涉法测量储存环横向尺寸与发射度, Beam transverse size and emittance measurement of HLS Ⅱ using interferometry, 强激光与粒子束, 2015, 第 1 作者