基本信息
张利新 男 硕导 中国科学院电工研究所
电子邮件: zhanglx@mail.iee.ac.cn
通信地址: 中关村街道北二条6号 中国科学院电工所
邮政编码: 100190
电子邮件: zhanglx@mail.iee.ac.cn
通信地址: 中关村街道北二条6号 中国科学院电工所
邮政编码: 100190
研究领域
电子光学设计及应用研究
多束电子束技术研究
电子显微镜
电子束曝光系统
招生信息
欢迎具有光学工程、物理电子学、机械工程等专业背景的学生加入我们的研究团队。
招生专业
080805-电工理论与新技术
招生方向
电子光学设计及应用研究 多束电子束技术研究
教育背景
2017-09--2019-09 荷兰代尔夫特理工大学 博士联合培养2014-09--2020-06 北京航空航天大学 工学博士学位
学历
博士研究生
学位
工学博士
工作经历
2024.05-至今 中国科学院电工研究所,副研究员
2022.12-2024.05 中国科学院电工研究所,助理研究员;
2020.07-2022.12 中国科学院电工研究所,博士后;
出版信息
发表论文
(1) Minimizing Off-Axis Aberrations in Multi-Beam Electron Optical Systems: An Analytical Approach, Ultramicroscopy, 2026, 第 3 作者 通讯作者(2) 磁浸没热场发射电子枪, 光学 精密工程, 2025, 第 2 作者 通讯作者(3) 多束电子源设计与实验, 光学精密工程, 2025, 第 3 作者 通讯作者(4) 微型阵列束闸设计与实验, 光学精密工程, 2024, 第 1 作者(5) 多束电子光学系统的研究现状与发展, 电子显微学报, 2023, 第 1 作者(6) 离心法曲面涂胶的胶层厚度研究, 光学精密工程, 2022, 第 4 作者(7) Accuracy requirements of the microarrayed Einzel lens, J. Vac. Sci. Technol. B, 2022, 第 1 作者 通讯作者(8) Beam displacement and blur caused by fast electron beam deflection, ULTRAMICROSCOPY, 2020, 第 1 作者 通讯作者(9) Photoemission sources and beam blankers for ultrafast electron microscopy, STRUCTURAL DYNAMICS, 2019, 第 1 作者(10) Analytical analysis and simulation on fringe field effect of deflector plates applied in ultrafast electron microscopy, MICRON, 2019, 第 1 作者 通讯作者(11) Pulse length, energy spread, and temporal evolution of electron pulses generated with an ultrafast beam blanker, STRUCTURAL DYNAMICS, 2019,
科研活动
科研项目
( 1 ) 高亮度多束电子源关键部件研制, 负责人, 中国科学院计划, 2026-04--2028-04( 2 ) 多束电子光学系统离轴像差计算与调控技术研究, 负责人, 国家任务, 2026-01--2029-12