1994-09--1997-03   北京理工大学   工学硕士
1990-09--1994-07   昆明理工大学   工学学士

   

2007-06~现在, 国家纳米科学中心, 高级工程师
1999-10~2006-05,中国科学院电工研究所, 工程师
1997-04~1999-09,北京轴承研究所, 助理工程师
1994-09~1997-03,北京理工大学, 工学硕士
1990-09~1994-07,昆明理工大学, 工学学士

2012-03-07-今,中国电子显微镜学会FIB专业委员会, 委员

SDC Nanocharacterization Course-Lab training
纳米科学表征设备实验技术
Experimental Course of Nano-testing Technology
Nanocharacterization Lab exercises

   

（ 1 ） 利用聚焦离子束设备直接加工悬空绝缘膜的方法, 2023, 第 1 作者, 专利号: CN116946964A

（ 2 ） 一种电子显微镜通用的长度测量校准样品的制备方法, 2023, 第 1 作者, 专利号: CN116858142A

   

（1） Numerical modeling of in-plane thermal conductivity measurement methods based on a suspended membrane setup, INTERNATIONAL JOURNAL OF HEAT AND MASS TRANSFER, 2021, 第 3 作者
（2） FIB/SEM双束系统在微纳米材料电学性能测试中的应用, Application of FIB / SEM dual beam system in the testing of the electrical properties of micro / nanomaterials, 电子显微学报, 2016, 第 1 作者
（3） FIB／SEM双束系统在微纳加工与表征中的应用, Applications of FIB/SEM Dual Beam System for Micro-Nanofabrication and Characterization, 中国材料进展, 2013, 第 1 作者

   

（ 1 ） 尺寸可调金属纳米颗粒2D单层均匀排列的制备理论与实验研究, 参与, 国家任务, 2020-01--2023-12
（ 2 ） 纳米薄膜力学性能直接测量新方法研究, 参与, 国家任务, 2014-01--2017-12
（ 3 ） 纳米成像与分子器件, 参与, 中国科学院计划, 2014-01--2015-12
（ 4 ） 基于扫描电镜的扫描透射功能开发, 负责人, 境内委托项目, 2013-07--2014-07

（1）分会组织   2023年全国电子显微学学术年会   2023-10-26
（2）绝缘体样品在FIB/SEM双束系统中的荷电问题   第六届电子显微学网络会议   2020-06-16
（3）聚焦离子束技术在纳米材料表征中的应用   第二届 “纳米表征与检测技术 ”主题网络研讨会 ”主题网络研讨会   2019-12-18
（4）一种快速准三维加工方法探索   2019年度第十届中国FIB技术及学术交流研讨会   2019-11-13
（5）FIB制备TEM放大倍率标物初探   2018年第九届中国FIB技术及学术交流研讨会   2018-11-19
（6）小角斜切技术在薄膜材料中的应用探索   2017年第八届中国FIB技术及学术交流研讨会   2017-11-22
（7）绝缘体样品的观察与加工   2016年第七届中国FIB技术及学术交流研讨会   2016-11-16
（8）FIB/SEM双束系统加工与测长标准问题讨论   2015年第六届FIB技术及学术交流研讨会   2015-11-19
（9）“失焦”的离子束加工应用   2014年第五届FIB技术与学术交流研讨会   2014-11-04
（10）FIB/SEM双束系统在微纳表征与性能测试中的应用   2014年全国“扫描电镜中能谱（EDS）、电子背散射衍射技术（EBSD）及聚焦离子束（FIB）”前沿技术与应用高端研修班   2014-09-06
（11）电子光学与离子光学基础   第7届微纳尺度材料行为国际研讨会   2014-06-22
（12）FIB/SEM双束系统的加工与检测技术   2013年第四届中国FIB技术及学术交流研讨会   2013-11-21