半导体器件及集成电路测试是验证产品设计、监控生产状况、保证产品质量、分析产品实效和指导应用的重要手段，贯穿着整个产业链，具有极其重要的作用。集成电路测试机通常内置电源、高精度源表、时钟板卡、数字板卡和模拟板卡等功能模块，是一套十分复杂的系统，目前高端半导体参数分析仪和集成电路测试机超过80%的市场份额被国外垄断。围绕半导体器件及集成电路测试领域的重要科学与技术问题，开展高精度源表、高速数字/模拟芯片测试板卡及IP设计、测试算法、系统软硬件集成等研究，具体包括：

1 集成电路设计与测试技术

2 仪器仪表工程

3 嵌入式系统设计与实现技术

招生专业：仪器仪表、电子信息、电子科学与技术、信号与系统、计算机等相关专业

招生数量：每年拟招收硕士生1名

080903-微电子学与固体电子学
080902-电路与系统
085400-电子信息

集成电路设计与测试
仪器仪表工程
嵌入式系统

2011-09--2016-01   中国科学院大学   工学博士

   

2017-04~现在, 中国科学院微电子研究所, 高级工程师