基本信息
陆江  男  硕导  中国科学院微电子研究所
电子邮件: lujiang@ime.ac.cn
通信地址: 北京市朝阳区北土城西路3号
邮政编码: 46012

研究领域

硅基功率器件、宽禁带SiC功率器件的可靠性设计及优化研究、功率半导体器件测试分析;硅基霍尔集成电路传感器设计


招生信息

   
招生专业
080903-微电子学与固体电子学
招生方向
功率半导体器件
宽禁带半导体器件
高性能传感器电路

教育背景

2009-09--2013-06   中国科学院大学   博士学历

工作经历

   
工作简历
2004-07~现在, 中国科学院微电子研究所, 副研究员

专利与奖励

1)   陆江等;一种抗单粒子能力加固的槽型栅功率器件  授权公告号:CN207993870U

2)   陆江等;一种绝缘栅双极晶体管                  授权公告号:CN207624704U 

3)   陆江等;一种霍尔基片结构及霍尔传感器          授权公告号:CN207624732U 

4)   陆江等;用于TO-3封装功率器件在雪崩耐量实验中的连接装置     授权公告号:CN204389541U

5)   陆江等;适用于LCC-18封装功率器件在雪崩耐量实验中的连接装置 授权公告号:CN204347072U

6)   陆江等;三管腿通孔封装功率器件在雪崩耐量实验中的连接装置    授权公告号:CN204303799U

7)   陆江等;三单元130毫米功率器件模块动态特性的测试装置       授权公告号:CN203069689U

8)   陆江等;34毫米半桥连接功率器件模块动态特性的测试装置      授权公告号:CN203025260U

9)   陆江等;两单元62毫米功率器件模块动态特性的测试装置        授权公告号:CN203025321U

10)  陆江等;一种功率半导体器件结电容测试装置              授权公告号:CN202141762U

11)  陆江等;一种栅极部分变窄的绝缘栅双极晶体管            申请公布号:CN108155229A 

12)  陆江等;一种绝缘栅双极晶体管                     申请公布号:CN108122964A 

13)  陆江等;一种增强抗单粒子能力加固的槽型栅功率器件        申请公布号:CN108122990A

14)  陆江;一种绝缘栅双极晶体管                      申请公布号:CN106783946A 

15)  陆江;一种槽型栅功率场效应晶体管                  申请公布号:CN106505099A 

16)  陆江;一种绝缘栅双极晶体管                     申请公布号:CN106409887A

17) 陆江; 一种绝缘栅双极晶体管                    申请公布号:CN106409899A 


专利成果
[1] 陆江. 一种绝缘栅双极晶体管. CN: CN114256340A, 2022-03-29.
[2] 蔡小五, 赵海涛, 刘海南, 罗家俊, 曾传滨, 卜建辉, 陆江. 双向可控硅静电放电保护结构及SOI结构. CN: CN109935581B, 2021-04-13.
[3] 刘佳维, 陆江, 白云, 田晓丽, 陈宏, 汤益丹, 杨成樾, 刘新宇. 一种SiC功率MOSFET器件. CN: CN112103345A, 2020-12-18.
[4] 冯旺, 田晓丽, 杨雨, 白云, 陆江, 刘新宇. N沟道SiC IGBT器件的制作方法. CN: CN111508837A, 2020-08-07.
[5] 陆江. 一种绝缘栅双极晶体管. CN: CN108122964B, 2020-06-16.
[6] 田晓丽, 冯旺, 杨雨, 陆江, 白云, 刘新宇. 抗闩锁绝缘栅双极晶体管器件. CN: CN111223922A, 2020-06-02.
[7] 田晓丽, 冯旺, 杨雨, 陆江, 白云, 杨成樾, 刘新宇. 一种碳化硅绝缘栅双极晶体管及其制作方法. CN: CN111048580A, 2020-04-21.
[8] 胡爱斌, 朱阳军, 卢烁今, 王波, 陆江. 一种IGBT结构及其制作方法. CN: CN110061047A, 2019-07-26.
[9] 蔡小五, 曾传滨, 赵海涛, 刘海南, 卜建辉, 陆江, 罗家俊. 双向可控硅静电放电保护结构及SOI结构. CN: CN109962098A, 2019-07-02.
[10] 蔡小五, 赵海涛, 刘海南, 罗家俊, 曾传滨, 卜建辉, 陆江. 双向可控硅静电放电保护结构及SOI结构. CN: CN109962099A, 2019-07-02.
[11] 蔡小五, 罗家俊, 刘海南, 曾传滨, 赵海涛, 卜建辉, 陆江. 双向可控硅静电放电保护结构及SOI结构. CN: CN109935582A, 2019-06-25.
[12] 韩忠霖, 白云, 陈宏, 杨成樾, 陆江, 汤益丹, 田晓丽, 王臻星, 刘新宇. 一种双沟槽SS-SiC MOSFET结构. CN: CN109768091A, 2019-05-17.
[13] 宋瓘, 白云, 陈宏, 汤益丹, 杨成樾, 田晓丽, 陆江, 刘新宇. 一种4H-SiC MOSFET功率器件及其制造方法. CN: CN109616523A, 2019-04-12.
[14] 陆江, 刘海南, 卜建辉, 蔡小五, 罗家俊. 一种抗单粒子能力加固的槽型栅功率器件. CN: CN207993870U, 2018-10-19.
[15] 陆江, 刘海南, 卜建辉, 张国欢, 罗家俊. 一种霍尔基片结构及霍尔传感器. CN: CN207624732U, 2018-07-17.
[16] 陆江, 刘海南, 蔡小五, 卜建辉, 罗家俊. 一种绝缘栅双极晶体管. 中国: CN207624704U, 2018-07-17.
[17] 陆江. 一种绝缘栅双极晶体管. CN: CN207624704U, 2018-07-17.
[18] 杨尊松, 王立新, 肖超, 宋李梅, 孙博韬, 陆江, 罗小梦, 罗家俊. 一种超结器件. CN: CN207587736U, 2018-07-06.
[19] 陆江, 刘海南, 卜建辉, 蔡小五, 罗家俊. 一种栅极部分变窄的绝缘栅双极晶体管. CN: CN108155229A, 2018-06-12.
[20] 陆江, 刘海南, 卜建辉, 蔡小五, 罗家俊. 一种增强抗单粒子能力加固的槽型栅功率器件. CN: CN108122990A, 2018-06-05.
[21] 陆江, 刘海南, 蔡小五, 卜建辉, 罗家俊. 一种绝缘栅双极晶体管. CN: CN108122964A, 2018-06-05.
[22] 蔡小五, 罗家俊, 刘海南, 曾传滨, 卜建辉, 陆江, 赵海涛. 一种晶体管、钳位电路及集成电路. CN: CN108039362A, 2018-05-15.
[23] 蔡小五, 罗家俊, 刘海南, 曾传滨, 卜建辉, 陆江, 赵海涛. 一种晶体管、钳位电路及集成电路. CN: CN108039365A, 2018-05-15.
[24] 蔡小五, 罗家俊, 刘海南, 曾传滨, 卜建辉, 陆江, 赵海涛. 一种晶体管、钳位电路及集成电路. CN: CN108039364A, 2018-05-15.
[25] 蔡小五, 罗家俊, 刘海南, 陆江, 曾传滨, 卜建辉, 赵海涛. 一种ESD钳位电路及集成电路. CN: CN107863339A, 2018-03-30.
[26] 杨尊松, 王立新, 肖超, 宋李梅, 孙博韬, 陆江, 罗小梦, 罗家俊. 一种超结器件. CN: CN106847920A, 2017-06-13.
[27] 杨尊松, 王立新, 肖超, 宋李梅, 陆江, 罗小梦, 罗家俊. 一种高压超结VDMOS. CN: CN106847919A, 2017-06-13.
[28] 杨尊松, 王立新, 罗小梦, 宋李梅, 肖超, 陆江, 罗家俊, 韩郑生. 一种超结器件耐压层的制备方法. CN: CN106816376A, 2017-06-09.
[29] 陆江. 一种绝缘栅双极晶体管. CN: CN106783946A, 2017-05-31.
[30] 杨尊松, 王立新. 一种超结器件. CN: CN106711189A, 2017-05-24.
[31] 滕渊, 朱阳军, 卢烁今, 田晓丽. IGBT器件及其制作方法. CN: CN106711204A, 2017-05-24.
[32] 陆江. 一种槽型栅功率场效应晶体管. CN: CN106505099A, 2017-03-15.
[33] 滕渊, 朱阳军, 卢烁今, 田晓丽. 一种绝缘栅双极型晶体管及其制作方法. CN: CN106486361A, 2017-03-08.
[34] 陆江. 一种绝缘栅双极晶体管. CN: CN106409887A, 2017-02-15.
[35] 陆江. 一种绝缘栅双极晶体管. CN: CN106409899A, 2017-02-15.
[36] 朱阳军, 褚为利, 陆江. 功率半导体器件的高温测试方法. CN: CN104977517A, 2015-10-14.
[37] 褚为利, 朱阳军, 陆江, 卢烁今, 田晓丽. 结终端延伸的终端版图结构及其终端结构. CN: CN204632762U, 2015-09-09.
[38] 周宏宇, 刘刚, 陆江, 赵发展. SMD表面贴系列封装功率器件测试连接装置. CN: CN204462193U, 2015-07-08.
[39] 周宏宇, 赵发展, 陆江, 刘刚. TO-39封装功率器件测试连接装置. CN: CN204462194U, 2015-07-08.
[40] 陆江, 刘刚, 周宏宇, 赵发展. 用于TO-3封装功率器件在雪崩耐量实验中的连接装置. CN: CN204389541U, 2015-06-10.
[41] 张文亮, 朱阳军, 陆江, 田晓丽, 卢烁今. 半导体器件、PIN二极管和IGBT的制作方法. CN: CN104701162A, 2015-06-10.
[42] 陆江, 赵发展, 周宏宇, 刘刚. 适用于LCC-18封装功率器件在雪崩耐量实验中的连接装置. CN: CN204347072U, 2015-05-20.
[43] 陆江, 赵发展, 周宏宇, 刘刚. 三管腿通孔封装功率器件在雪崩耐量实验中的连接装置. CN: CN204303799U, 2015-04-29.
[44] 温景超, 王立新, 周宏宇, 陆江, 韩郑生. 一种TO-3封装功率半导体器件热阻测试装置. CN: CN203824949U, 2014-09-10.
[45] 温景超, 王立新, 周宏宇, 陆江, 韩郑生. 一种SMD-0.5封装功率半导体器件热阻测试装置. CN: CN203773016U, 2014-08-13.
[46] 温景超, 王立新, 陆江, 韩郑生, 周宏宇. 一种TO-39封装功率半导体器件热阻测试装置. CN: CN203773017U, 2014-08-13.
[47] 张文亮, 朱阳军, 陆江, 赵佳, 左小珍. 一种沟槽型IGBT及其制造方法. CN: CN103872114A, 2014-06-18.
[48] 朱阳军, 董少华, 王任卿, 陆江. 一种测量双极性器件峰值结温分布的方法. CN: CN103868612A, 2014-06-18.
[49] 王任卿, 朱阳军, 陆江, 苏江. 一种基于SCR的集成电路静电保护器件. CN: CN103855153A, 2014-06-11.
[50] 朱阳军, 陆江, 董少华, 田晓丽, 王任卿. 一种测量MOSFET器件峰值结温分布的方法. CN: CN103852181A, 2014-06-11.
[51] 张文亮, 胡爱斌, 朱阳军, 陆江. 逆导型IGBT的集电极结构及其制备方法. CN: CN103855204A, 2014-06-11.
[52] 董少华, 朱阳军, 陆江, 王任卿, 佘超群. 一种IGBT结壳热阻的测量方法. CN: CN103852483A, 2014-06-11.
[53] 喻巧群, 朱阳军, 胡爱斌, 陆江. 一种穿通型IGBT及其制作方法. CN: CN103854997A, 2014-06-11.
[54] 褚为利, 朱阳军, 田晓丽, 张文亮, 陆江. 用于绝缘栅双极晶体管的防闩锁终端区. CN: CN103839993A, 2014-06-04.
[55] 田晓丽, 朱阳军, 吴振兴, 陆江. 一种带缓冲层的低压IGBT及其制作方法. CN: CN103839989A, 2014-06-04.
[56] 赵佳, 朱阳军, 陆江, 卢烁今, 田晓丽. 一种平面型IGBT结构的制备方法. CN: CN103839803A, 2014-06-04.
[57] 胡爱斌, 朱阳军, 卢烁今, 王波. 一种IGBT结构及其制作方法. CN: CN103839994A, 2014-06-04.
[58] 王波, 朱阳军, 陆江, 谈景飞, 褚为利, 张文亮. 一种绝缘互联散热板及功率模块. CN: CN103794580A, 2014-05-14.
[59] 吴振兴, 朱阳军, 谈景飞, 胡爱斌, 陆江, 喻巧群, 陈宏, 赵佳. FRD的制备方法. CN: CN103715083A, 2014-04-09.
[60] 田晓丽, 朱阳军, 陆江, 赵佳, 左小珍. 一种IGBT的版图. CN: CN203521422U, 2014-04-02.
[61] 张文亮, 朱阳军, 陆江, 谈景飞, 褚为利, 王波. 一种功率器件缓冲层或截流子存储层的制备方法. CN: CN103681261A, 2014-03-26.
[62] 左小珍, 朱阳军, 赵佳, 卢烁今, 田晓丽, 陆江, 吴振兴. 一种栅极电压均匀分布的大电流IGBT版图. CN: CN103678744A, 2014-03-26.
[63] 温景超, 王立新, 陆江. 功率半导体器件热阻测试装置. CN: CN203414568U, 2014-01-29.
[64] 陆江, 刘海南, 蔡小五, 卜建辉, 罗家俊. 一种绝缘栅双极晶体管. CN: CN103378140A, 2013-10-30.
[65] 褚为利, 朱阳军, 吴振兴, 陆江. 一种有源区金属与终端区形成电连接的版图. CN: CN203134806U, 2013-08-14.
[66] 佘超群, 朱阳军, 陆江, 成星, 高振鹏. 一种结电容测试装置. CN: CN203084083U, 2013-07-24.
[67] 陆江, 朱阳军, 高振鹏, 佘超群, 成星. 三单元130毫米功率器件模块动态特性的测试装置. CN: CN203069689U, 2013-07-17.
[68] 成星, 朱阳军, 陆江, 佘超群, 高振鹏. 用于两单元73毫米功率器件模块电容的测试装置. CN: CN203037746U, 2013-07-03.
[69] 褚为利, 朱阳军, 田晓丽, 卢烁今, 陆江. 一种半导体功率器件. 中国: CN203026509U, 2013-06-26.
[70] 陆江, 朱阳军, 佘超群, 成星, 高振鹏. 34毫米半桥连接功率器件模块动态特性的测试装置. CN: CN203025260U, 2013-06-26.
[71] 陆江, 朱阳军, 成星, 高振鹏, 佘超群. 两单元62毫米功率器件模块动态特性的测试装置. CN: CN203025321U, 2013-06-26.
[72] 成星, 陆江, 朱阳军, 佘超群, 高振鹏. 一种IGBT功率模块测试夹具. CN: CN202948032U, 2013-05-22.
[73] 成星, 朱阳军, 陆江, 卢烁今, 佘超群, 高振鹏. 一种用于62mm功率器件的结电容测试电路及装置. CN: CN202903894U, 2013-04-24.
[74] 高振鹏, 朱阳军, 陆江, 胡爱斌, 佘超群, 成星. 一种用于130mm功率器件的结电容测试电路及装置. CN: CN202854239U, 2013-04-03.
[75] 喻巧群, 朱阳军, 褚为利, 田晓丽, 吴振兴, 陆江. 用于半导体功率器件的终端. CN: CN102856356A, 2013-01-02.
[76] 陆江, 朱阳军, 苏江. 一种功率半导体器件结电容测试装置. CN: CN202141762U, 2012-02-08.
[77] 王任卿, 朱阳军, 陆江, 苏江. 一种基于SCR的集成电路静电保护器件. CN: CN102110686A, 2011-06-29.
[78] 蔡小五, 海潮和, 陆江, 王立新. 制备超结VDMOS器件的方法. CN: CN101515547B, 2011-02-16.
[79] 蔡小五, 赵发展, 海潮和, 陆江, 王立新. 功率VDMOS开启电压远程在线自动测试系统及方法. CN: CN101458292A, 2009-06-17.

出版信息

   
发表论文
[1] 刘佳维, 陆江, 白云, 成国栋, 左欣欣. SiC超结MOSFET的短路特性研究. 电源学报[J]. 2023, 21(01期): 208-212, VIP_JournalArticle.
[2] Zuo, Xinxin, Lu, Jiang, Liu, Xinyu, Bai, Yun, Tian, Xiaoli, Cheng, Guodong, Tang, Yidan, Yang, Chengyue, Chen, Hong. A 1200 V SiC Trench MOSFET with a Laterally Widened P-Shield Region to Enhance the Short-Circuit Ruggedness. ELECTRONICS[J]. 2022, 11(7): http://dx.doi.org/10.3390/electronics11071077.
[3] Zuo, Xinxin, Lu, Jiang, Tian, Xiaoli, Bai, Yun, Cheng, Guodong, Chen, Hong, Tang, Yidan, Yang, Chengyue, Liu, Xinyu. Improvement on short-circuit ability of SiC super-junction MOSFET with partially widened pillar structure. CHINESE PHYSICS B[J]. 2022, 31(9): 611-618, http://dx.doi.org/10.1088/1674-1056/ac6159.
[4] 成国栋, 陆江, 翟露青, 白云, 田晓丽, 左欣欣, 杨成樾, 汤益丹, 陈宏, 刘新宇. 槽栅型SiC MOSFET器件单粒子响应特性研究. 微电子学[J]. 2022, 52(3): 466-472, http://microelec.ijournals.cn/wdzx/article/abstract/20220322?st=article_issue.
[5] Yang, Liao, Bai, Yun, Li, Chengzhan, Chen, Hong, Tang, Yidan, Hao, Jilong, Yang, Chengyue, Tian, Xiaoli, Lu, Jiang, Liu, Xinyu. Bias Temperature Instability of 4H-SiC p- and n-Channel MOSFETs Induced by Negative Stress at 200 degrees C. IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES[J]. 2022, 69(6): 3042-3046, http://dx.doi.org/10.1109/TED.2022.3166126.
[6] Wu, Zhikang, Bai, Yun, Yang, Chengyue, Lu, Jiang, Yang, Liao, Tang, Yidan, Tian, Xiaoli, Liu, Xinyu. Schottky Barrier Characteristic Analysis on 4H-SiC Schottky Barrier Diodes With Heavy Ion-Induced Degradation. IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE[J]. 2022, 69(4): 932-937, http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2022.3160181.
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[9] Han, Zhonglin, Song, Guan, Bai, Yun, Chen, Hong, Liu, Xinyu, Lu, Jiang. A novel 4H-SiC MOSFET for low switching loss and high-reliability applications. SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY[J]. 2020, 35(8): http://dx.doi.org/10.1088/1361-6641/ab8fbf.
[10] Lu, Jiang, Liu, Jiawei, Tian, Xiaoli, Chen, Hong, Tang, Yidan, Bai, Yun, Li, Chengzhan, Liu, Xinyu. Impact of Varied Buffer Layer Designs on Single-Event Response of 1.2-kV SiC Power MOSFETs. IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES[J]. 2020, 67(9): 3698-3704, http://dx.doi.org/10.1109/TED.2020.3008398.
[11] 冯旺, 田晓丽, 陆江, 白云. 碳化硅绝缘栅双极型晶体管器件发展概述. 电力电子技术[J]. 2020, 54(10): 1-4, http://lib.cqvip.com/Qikan/Article/Detail?id=7103115800.
[12] Liu, Jiawei, Lu, Jiang, Tian, Xiaoli, Chen, Hong, Bai, Yun, Liu, Xinyu. Reliability enhanced SiC MOSFET with partially widened retrograde P-well structure. ELECTRONICS LETTERS[J]. 2020, 56(23): 1273-+, https://www.webofscience.com/wos/woscc/full-record/WOS:000588389600020.
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发表著作
(1) 功率半导体器件基础, Fundamentals of Power Semiconductor Devices, 电子工业出版社, 2013-02, 第 2 作者

科研活动

   
科研项目
( 1 ) 感性负载下MOS栅功率器件的动态雪崩失效机理及可靠性研究, 主持, 国家级, 2015-01--2017-12

指导学生

现指导学生

刘佳维  硕士研究生  080903-微电子学与固体电子学  

王光晨  硕士研究生  085209-集成电路工程  

康博  硕士研究生  085209-集成电路工程