（1）空间天气效应监测及应用

（2）空间电子学设计

（3）芯片安全测试技术

   

085400-电子信息

空间天气效应
空间电子学设计
粒子探测及抗辐射设计

2014-09--2020-06   中国科学院大学   博士
2005-09--2008-07   中国科学技术大学   硕士
2001-09--2005-07   中国科学技术大学   本科

   

2009-04~现在, 中国科学院国家空间科学中心, 高级工程师

航天器空间环境效应

   

（1） 集成电路抗单粒子效应激光试验评估技术, 二等奖, 部委级, 2019

（ 1 ） 用于半导体器件瞬态辐射感生电荷的测量方法、系统及装置, 发明专利, 2022, 第 8 作者, 专利号: CN113985240A

（ 2 ） 一种用于检测半导体器件硬缺陷故障点的定位装置及方法, 发明专利, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN113466650A

（ 3 ） 半导体器件瞬态剂量率效应激光模拟装置及评估系统, 发明专利, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN113030688A

（ 4 ） 一种激光探测集成电路内部电平状态的系统, 发明专利, 2021, 第 4 作者, 专利号: CN113030713A

（ 5 ） 一种多类型器件单粒子效应统筹监测系统及监测方法, 发明专利, 2020, 第 2 作者, 专利号: CN111781446A

（ 6 ） 一种器件单粒子效应薄弱点测绘甄别装置及方法, 专利授权, 2019, 第 1 作者, 专利号: CN110470968A

（ 7 ） 一种密码芯片的安全检测方法及其装置, 专利授权, 2018, 第 1 作者, 专利号: CN108173645A

（ 8 ） 一种用于半导体器件材料厚度的光学测量方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105136049A

（ 9 ） 一种暴露芯片衬底面的封装方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105070694A

（ 10 ） 一种用于半导体器件材料吸收系数的光学测量方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105067529A

（ 11 ） 一种用于半导体器件材料反射率的光学测量方法, 发明专利, 2015, 第 5 作者, 专利号: CN105004697A

   

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（ 1 ） 鸿鹄专项-临近空间对太阳风暴响应特征观测研究, 参与, 国家任务, 2018-10--2022-10
（ 2 ） 辐射效应风险监测载荷技术, 负责人, 国家任务, 2019-01--2020-12
（ 3 ） 激光破译密码芯片的精确故障模型研究, 负责人, 国家任务, 2019-01--2020-12
（ 4 ） 空间环境效应在轨监测技术研究, 负责人, 国家任务, 2020-01--2023-12
（ 5 ） 元器件单粒子效应分析, 负责人, 企业委托, 2020-01--2020-09
（ 6 ） SRAM/FPGA ESD试验分析, 负责人, 企业委托, 2019-07--2020-08
（ 7 ） 电子信息综合应用系统元器件辐照试验, 负责人, 企业委托, 2019-09--2020-12
（ 8 ） 单粒子翻转效应甄别与定位技术, 参与, 国家任务, 2018-01--2020-12
（ 9 ） 集成电路通用化辐射效应在线测试系统研制, 负责人, 企业委托, 2021-07--2022-04
（ 10 ） 航天用芯片高可用智能检测理论及方法研究, 负责人, 国家任务, 2021-10--2023-10

现指导学生

龙明兵  硕士研究生  085400-电子信息