1. 电子元器件辐射效应机理

2. 电子器件与系统抗辐射加固

3. 机器视觉与机器人系统

      抗辐射加固技术是为保证电子系统、仪器等在辐射环境中仍能完好并可靠地完成各种预定功能而采取的各种技术措施。该领域是航天、空间物理、核物理、微电子、材料和计算机等多个学科相互渗透和交叉的领域。我们将招收相关领域的优秀本科毕业生攻读硕博士学位，未来可从事半导体、航天、机器人等行业的科研及技术开发工作。

080903-微电子学与固体电子学
080901-物理电子学
080902-电路与系统

光电材料与器件的辐射效应
半导体光电材料的辐射效应
电路与系统集成技术

2004-09--2009-06   中国科学院长春光学精密机械与物理研究所   博士
2000-09--2004-07   吉林大学   学士

博士

博士

   

2017-10~现在, 中国科学院新疆理化技术研究所, 党委委员、研究室副主任、研究员
2014-11~2017-10,中国科学院新疆理化技术研究所, 研究员
2009-11~2014-10,中国科学院新疆理化技术研究所, 副研究员
2009-07~2009-10,中国科学院新疆理化技术研究所, 助理研究员

2018-02-08-今,中国科学院元器件专家组, 专家

   

（1） 纳米集成电路辐射效应评估关键技术及应用, 一等奖, 省级, 2021
（2） 星用光电成像器件辐射效应与抗辐射加固研究, 一等奖, 省级, 2018
（3） 新疆青年科技奖, 一等奖, 省级, 2016
（4） 星用双极器件及模拟电路的低剂量率辐射损伤增强效应研究, 一等奖, 省级, 2015

（ 1 ） 一种基于光斑的电荷耦合器件电荷转移效率通用测试方法, 发明专利, 2017, 第 1 作者, 专利号: 201710507786.X

（ 2 ） 一种基于宇宙射线的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法, 发明专利, 2017, 第 2 作者, 专利号: 201710507965.3

（ 3 ） 一种基于热像素的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法, 发明专利, 2017, 第 2 作者, 专利号: 201710507516.9

（ 4 ） 辐照后互补金属氧化物半导体有源像素传感器满阱的测试方法, 发明专利, 2017, 第 2 作者, 专利号: 201710205736.6

（ 5 ） 快速鉴别辐照后互补金属氧化物半导体传感器随机电码信号的方法, 发明专利, 2017, 第 5 作者, 专利号: 201710200747.5

（ 6 ） 用于焦平面成像器件绝对光谱响应的通用快速测量方法, 发明专利, 2017, 第 1 作者, 专利号: 201710130429.6

（ 7 ） 辐照后互补金属氧化物半导体光子转移曲线和转换增益的测试方法, 发明专利, 2017, 第 1 作者, 专利号: 201710077573.8

（ 8 ） 一种用于光电材料光致发光谱辐射损伤的测试方法, 发明专利, 2016, 第 5 作者, 专利号: 201610720572.6

（ 9 ） 用于元器件电离辐照的X射线辐照方法, 发明专利, 2016, 第 1 作者, 专利号: 201610516217.7

（ 10 ） 用于晶片级器件辐射效应试验的X射线辐照测试设备, 发明专利, 2016, 第 1 作者, 专利号: 201610516216.2

（ 11 ） 一种基于Matlab的图像传感器RTS噪声检测分析系统, 发明专利, 2015, 第 3 作者, 专利号: 201510305312.8

（ 12 ） 基于p-i-n结构的位移损伤剂量探测方法, 发明专利, 2014, 第 5 作者, 专利号: 201410629535.5

（ 13 ） 一种用于光电成像器件光谱辐射损伤的测试方法, 发明专利, 2013, 第 1 作者, 专利号: 201310609114.1

   

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（ 1 ） 基于像素单元的CMOS图像传感器辐射损伤机理研究, 主持, 国家级, 2011-01--2013-12
（ 2 ） TDI-CCD辐射效应研究, 主持, 部委级, 2011-01--2012-12
（ 3 ） CCD的辐射效应及评估方法研究, 主持, 部委级, 2009-07--2013-06
（ 4 ） 空间辐射对高灵敏度CCD性能的影响, 主持, 国家级, 2014-07--2015-06
（ 5 ） 晶片级辐照与辐射效应参数提取设备, 主持, 部委级, 2014-01--2015-12
（ 6 ） CCD的空间位移辐射损伤效应研究, 主持, 部委级, 2013-09--2017-08
（ 7 ） 背照式CMOS图像传感器像素结构的累积辐射效应与机理研究, 主持, 国家级, 2017-01--2020-12
（ 8 ） 电子元器件辐射效应基础数据库研究, 主持, 国家级, 2018-01--2020-12
（ 9 ） 钴源试验技术, 参与, 国家级, 2011-01--2015-12
（ 10 ） 质子位移效应试验技术, 参与, 国家级, 2014-01--2018-06
（ 11 ） 中子导致图像传感器热像素的机理与评估方法, 主持, 国家级, 2017-01--2018-12
（ 12 ） CIS单粒子效应试验评估技术, 参与, 国家级, 2017-01--2018-12
（ 13 ） 强核辐射环境下电子系统抗辐射加固技术, 主持, 部委级, 2020-01--2022-12

（1）A Radiation-Tolerant, High Performance SPAD for SiPMs Implemented in CMOS Technology   2013年IEEE核科学与技术学术年会   2016-11-01
（2）科学级CCD与商用CCD的电离辐射损伤研究   2013年IEEE核科学与技术学术年会   李豫东   2013-10-28
（3）CCD的总剂量效应及加固方法研究   第十七届全国半导体集成电路、硅材料学术会议   李豫东   2011-11-17
（4）光电成像器件抗辐射性能检测设备的研制   第十一届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会    李豫东   2011-11-15

已指导学生

王海娇  硕士研究生  080903-微电子学与固体电子学  

王帆  硕士研究生  080903-微电子学与固体电子学  

慎小宝  硕士研究生  080901-物理电子学  

王田珲  硕士研究生  080901-物理电子学  

现指导学生

陈加伟  硕士研究生  080903-微电子学与固体电子学  

王海川  硕士研究生  080903-微电子学与固体电子学  

刘炳凯  博士研究生  080903-微电子学与固体电子学